scanning-force microscope
noun
/͵skænɪŋ͵fɔːsʹmaɪkrəskəʊp/
in Georgian | in Russian
მასკანირებელი ძალური / ატომურ-ძალური მიკროსკოპი (მასკანირებელი ზონდური მიკროსკოპის ტიპი, რომელიც სკანირებისას ახდენს ზონდსა და ზედაპირს შორის ძალური ურთიერთქმედების ცვლილების რეგისტრირებას; აგრ. atomic force microscope) [იხ. აგრ. scanning probe microscope].