scanning-force microscope
არსებითი სახელი
/͵skænɪŋ͵fɔːsʹmaɪkrəskəʊp/
ქართულად | რუსულად
მასკანირებელი ძალური / ატომურ-ძალური მიკროსკოპი (მასკანირებელი ზონდური მიკროსკოპის ტიპი, რომელიც სკანირებისას ახდენს ზონდსა და ზედაპირს შორის ძალური ურთიერთქმედების ცვლილების რეგისტრირებას; აგრ. atomic force microscope) [იხ. აგრ. scanning probe microscope].